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神崎优选HORIBA堀场PX-375颗粒物成分连续测量系统

神崎优选HORIBA堀场PX-375颗粒物成分连续测量系统
神崎优选HORIBA堀场PX-375颗粒物成分连续测量系统

    • 现场对颗粒物质量、浓度和成分进行实时元素分析
       
    • 采用世界**的可信分析技术、X射线荧光分析和β射线吸收技术
       
    • 使用专有过滤器,PM2.5实现颗粒组分的低浓度高精度测量
       
    • 摄像头可以观察过滤器中颗粒的收集状态,从而更准确地估算空气污染源。
       

     

    X射线荧光测量大气颗粒物中无机元素的优势。

    这是可能的!

    • 污染物随时间分析→捕捉快速浓度会在短时间内增加。
    • 易于部署→减少分析所需的工时
    • 顺畅验证→及时响应并触发警报
    • PMF模型及其他方面的分析准确性提升→更多验证

     

    [表1] 可检测元素


     

    案例研究